麻省理工學(xué)院機(jī)械工程學(xué)助理教授Tonio Buonassisi
"Impurities to Efficiency(I2E)"利用基礎(chǔ)物理和詳細(xì)的計(jì)算機(jī)仿真來預(yù)測，電阻鐵粒子在硅片生產(chǎn)工藝中是怎樣起作用的。I2E網(wǎng)站從2011年7月開始上線，MIT估計(jì)用戶已經(jīng)通過該網(wǎng)站進(jìn)行了2000次左右的仿真。
MIT指出，在I2E發(fā)布之前，選擇硅片純度級別的估算方案是一個(gè)反復(fù)試驗(yàn)的過程。通過該工具，研究人員可以通過輸入計(jì)劃材料和生產(chǎn)工藝來探索可供選擇的生產(chǎn)策略，然后通過大約一分鐘的計(jì)算機(jī)仿真而得到一個(gè)關(guān)于最終太陽能電池效率的指示。
由于鐵粒子的局限性，對于鐵粒子的數(shù)目、分布和粒子大小等因素，很難去預(yù)測和測量。
該工具是由機(jī)械工程學(xué)助理教授Tonio Buonassisi，研究生David Fenning和Douglas Powell，聯(lián)合西班牙馬德里技術(shù)大學(xué)太陽能學(xué)院的研究人員共同開發(fā)的。
研究團(tuán)隊(duì)使用了阿貢國家實(shí)驗(yàn)室（伊利諾斯州丹尼森市）同步加速器的X射線來證明其仿真結(jié)果。更多的細(xì)節(jié)將會以論文的形式發(fā)表在《Photovoltaics International》期刊上。
I2E工具的開發(fā)得到了美國能源部的支持。
